Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем

В.К. Дорошевич; П.В. Дорошевич

Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем

В.К. Дорошевич¹, П.В. Дорошевич²

научная статья Страницы: 40-44

¹ д. т. н., исполнительный директор, Федеральный фонд развития электронной техники
² студент, МИРЭА

Ключевые слова: микросхема качество отказ отбраковочные испытания

Аннотация

Приведены рекомендации по определению оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем.

Для цитирования

Дорошевич В.К., Дорошевич П.В. Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем // Наукоемкие технологии. 2012. № 4. С. 40–44.

Список источников

ОСТ В 11 0998-99 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 1999.
ОСТ В 11 1010-2001 «Микросхемы интегральные, бескорпусные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 2001.
ОСТ 11 14.1012-99 «Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля»: Изд-во Минобороны. 1999.
Руководящий документ 22.12.174-94 «Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведения физико-технической экспертизы при оценке качества»: 22 ЦНИИИ МО. 1994.
ОСТ II 073.013-83. Микросхемы интегральные методы испытаний.

[1] ОСТ В 11 0998-99 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 1999.

[2] ОСТ В 11 1010-2001 «Микросхемы интегральные, бескорпусные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 2001.

[3] ОСТ 11 14.1012-99 «Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля»: Изд-во Минобороны. 1999.

[4] Руководящий документ 22.12.174-94 «Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведения физико-технической экспертизы при оценке качества»: 22 ЦНИИИ МО. 1994.

[5] ОСТ II 073.013-83. Микросхемы интегральные методы испытаний.

Аннотация

Для цитирования

Похожие статьи