Definition of optimum structure of tests of plates and microcircuits on presence of defects
- 1 д. т. н., исполнительный директор, Федеральный фонд развития электронной техники
- 2 студент, МИРЭА
Abstract
In clause recommendations are resulted on to definition of optimum structure tests of plates and microcircuits on presence of defects.
How to cite
Дорошевич В.К., Дорошевич П.В. Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем // Наукоемкие технологии. 2012. № 4. С. 40–44.
References
- ОСТ В 11 0998-99 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 1999.
- ОСТ В 11 1010-2001 «Микросхемы интегральные, бескорпусные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 2001.
- ОСТ 11 14.1012-99 «Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля»: Изд-во Минобороны. 1999.
- Руководящий документ 22.12.174-94 «Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведения физико-технической экспертизы при оценке качества»: 22 ЦНИИИ МО. 1994.
- ОСТ II 073.013-83. Микросхемы интегральные методы испытаний.