Журналы
Радиотехника
Антенны
Успехи современной радиоэлектроники
Электромагнитные волны и электронные системы
Биомедицинская радиоэлектроника
Нейрокомпьютеры: разработка, применение
Наукоемкие технологии
Информационно-измерительные и управляющие системы
Нелинейный мир
Спутниковые системы связи и вещания
Технологии живых систем
Системы высокой доступности
Динамика сложных систем - XXI век
Нанотехнологии: разработка, применение - XXI век
Все журналы
→
Книги
Об издательстве
Для авторов
Подобрать журнал
Правила и документы
RU
EN
Радиотехника
Журналы
Все журналы
Радиотехника
Антенны
Успехи современной радиоэлектроники
Электромагнитные волны и электронные системы
Биомедицинская радиоэлектроника
Нейрокомпьютеры: разработка, применение
Наукоемкие технологии
Информационно-измерительные и управляющие системы
Нелинейный мир
Спутниковые системы связи и вещания
Технологии живых систем
Системы высокой доступности
Динамика сложных систем - XXI век
Нанотехнологии: разработка, применение - XXI век
Книги
Об издательстве
Для авторов
Подобрать журнал
Правила и документы
RU
EN
+7 (495) 625‑92‑41
info@radiotec.ru
Отмена
Название статьи или книги, фамилия автора, DOI
Главная
/
Авторы
/
В.К. Дорошевич
В.К. Дорошевич
V.K. Doroshevich
6 статей
2012–2016
Наукоемкие технологии
6
2016
Применение современных информационных технологий при выборе электрорадиоизделий отечественного и иностранного производства для вновь разрабатываемых и модернизируемых изделий военной техники, а также при сопровождении уже примененной в изделиях военной техники номенклатуры электрорадиоизделий
Наукоемкие технологии, №9 за 2016 г.
С. 16-20
2013
Определение возможности уменьшения планов контроля для функционально сложных микросхем
Наукоемкие технологии, №2 за 2013 г.
С. 18-20
Исследование влияния качества материалов на качество микросхем
Наукоемкие технологии, №2 за 2013 г.
С. 15-17
Исследование влияния технологических операций на качество микросхем
Наукоемкие технологии, №2 за 2013 г.
С. 13-14
2012
Порядок проведения физико-технической экспертизы при оценке качества микросхем
Наукоемкие технологии, №4 за 2012 г.
С. 44-51
Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем
Наукоемкие технологии, №4 за 2012 г.
С. 40-44