№5 за 2016 г.
Физика твердого тела в электронике
- Влияние качества тонких диэлектрических пленок на надежность интегральных микросхем С. 3-7
- Анализ омического контакта системы титанникель с сильно легированным кремнием N-типа С. 8-10
- Влияние легирования кислородом из оксидного слоя, сформированного на поверхности титановых прутков, на свойства изделий для радиолокационных установок С. 11-18
- Вывод закона Кулона для магнитных зарядов С. 19-23
Физика материалов для электронных систем
Распространение электромагнитных волн
- Уточненная теория образования доплеровского сдвига частоты в электромагнитных колебаниях С. 29-36
- Анализ искажений радиоимпульсов при распространении по ионосферным линиям передачи спутниковых систем связи С. 37-45
- Оценка оптимальной пространственно-временной дискретизации в задачах слежения за вращающимися целями с использованием MDR С. 46-51
- Использование высокоимпедансной поверхности метаматериала для управления согласованием микрополосковой антенны С. 52-57
Вакуумная и плазменная электроника и электродинамика
- Вторично-эмиссионные материалы и изделия на их основе для мощных электровакуумных приборов СВЧ С. 58-64
