Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову scanning probe microscopy
Влияние плазмы тлеющего разряда на молекулярную структуру и морфологию поверхностных слоев полиимидно-фторопластовой пленки
А.А. Рогачев - к.т.н., ст. научн. сотрудник, Белорусский государственный университет транспорта (г. Гомель). Е-mail: rogachevfv@mail.ru О.А. Саркисов - ст. преподаватель, УО «Белорусский государственный университет транспорта» (г. Гомель) А.В. Рогачев - чл.-корр. НАНБ, д.х.н., профессор, ректор, Гомельский государственый университет им. Ф. Скорины. Е-mail: rogachevav@mail.ru П.А. Лучников - зав. лабораторией, Московский государственный технический университет МИРЭА. Е-mail: xdeltax@mail.ru
Диагностика дефектов ячеек энергонезависимой памяти методом контактной сканирующей емкостной микроскопии
Ю.Л. Шиколенко - аспирант, Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники (МИРЭА)
Центр молодежного инновационного творчества «Нанотехнологии»: от атомов и молекул до живых клеток
А.И. Ахметова - инженер, ЦМИТ «Нанотехнологии», МГУ им. М.В. Ломоносова Г.Б. Мешков - к.ф.-м.н., науч. сотрудник, МГУ им. М.В. Ломоносова И.В. Яминский - д.ф.-м.н., профессор, МГУ им. М.В. Ломоносова; ген. директор ООО НПП «Центр перспективных технологий», руководитель ЦМИТ «Нанотехнологии»