Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову scanning electron microscope
Исследования кубического нитрида бора методами ЦКЛ и ЦКЛВСР в растровом электронном микроскопе
О.Р. Абдуллаев - к.т.н., директор по науке и производству, ОАО «Оптрон». E-mail: abd@optron.ru А.И. Габельченко - науч. сотрудник, кафедра физической электроники, физический факультет, МГУ им. М.В. Ломоносова П.В. Иванников - науч. сотрудник, кафедра физической электроники, физический факультет, МГУ им. М.В. Ломоносова А.С. Якунин - директор Департамента pадиоэлектронной промышленности, Министерство промышленности и торговли РФ
Методика оценки нелинейности развертки растровых электронных микроскопов
В.Б. Митюхляев - к.ф.-м.н., начальник отдела, АО «НИЦПВ» (Москва) E-mail: fgupnicpv@mail.ru С.С. Анцыферов - д.т.н., профессор, кафедра метрологии и стандартизации, Московский технологический университет (МИРЭА) E-mail: c_standard@fel.mirea.ru В.Г. Маслов - аспирант, кафедра метрологии и стандартизации, Московский технологический университет (МИРЭА); инженер, АО «НИЦПВ» (Москва) E-mail: monty-49@mail.ru