Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову electron-probe x-ray microanalysis
И.П. Пронин - к.ф-м.н., ст. науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН (Санкт-Петербург). Е-mail: Petrovich@mail.ioffe.ru
Е.Ю. Каптелов - к.ф-м.н., ст. науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН (Санкт-Петербург)
С.В. Сенкевич - к.ф-м.н., науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН (Санкт-Петербург)
Е.Ю. Флегонтова - к.ф-м.н., науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН (Санкт-Петербург). Е-mail: fl.xiees@mail.ioffe.ru
В.П. Пронин - к.ф-м.н., доцент, Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена (Санкт-Петербург). Е-mail: Thphys@herzen.spb.ru
Д.М. Долгинцев - аспирант, Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена (Санкт-Петербург)