Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову x-ray spectroscopy
Анализ отказов электронных элементов и интегральных схем
В.А. Сметанников - аспирант, кафедра радиопередающих устройств, Московский Государственный Институт Радиотехники Электроники и Автоматики, инженер отдела главного конструктора ОАО НПО ЛЭМЗ. E-mail: smits77@yandex.ru
Возможность косвенного измерения толщины тонких углеродных пленок с помощью энергодисперсионного анализа

И.А. Сорокин1, Д.В. Колодко2

1,2 ФИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (г. Фрязино, Россия)

1,2 НИЯУ «МИФИ» (Москва, Россия)