350 руб
Журнал «Наукоемкие технологии» №8 за 2011 г.
Статья в номере:
Анализ отказов электронных элементов и интегральных схем
Ключевые слова: неразрушающий контроль качества рентгенография рентгеноспектроскопия оптическая микроскопия управление надежностью компоненты интегральных схем
Авторы:
В.А. Сметанников - аспирант, кафедра радиопередающих устройств, Московский Государственный Институт Радиотехники Электроники и Автоматики, инженер отдела главного конструктора ОАО НПО ЛЭМЗ. E-mail: smits77@yandex.ru
Аннотация:
Описаны основные виды отказов элементов интегральных схем и предложены методы их исследования.
Страницы: 68-70
Список источников
  1. Smith C.A. The application of X-rays in the failure analysis of electronic devices and systems // Circuit World. 2008. V. 34. № 3. Р.  31 - 39.