Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову transient errors
Повышение отказоустойчивости кэш-памяти в микропроцессорных системах
В.Н. Захаров - к. т. н., доцент, ученый секретарь, ИПИ РАН. E-mail:vzakharov@ipiran.ru Б.З. Шмейлин - к. т. н., доцент, ст. науч. сотрудник ИПИ РАН. E-mail shmeilin@mail.ru