Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову tests for presence of defects
Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем
В.К. Дорошевич - д. т. н., исполнительный директор, Федеральный фонд развития электронной техники П.В. Дорошевич - студент, МИРЭА