350 руб
Журнал «Наукоемкие технологии» №4 за 2012 г.
Статья в номере:
Определение оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем
Ключевые слова: микросхема качество отказ отбраковочные испытания
Авторы:
В.К. Дорошевич - д. т. н., исполнительный директор, Федеральный фонд развития электронной техники П.В. Дорошевич - студент, МИРЭА
Аннотация:
Приведены рекомендации по определению оптимального состава отбраковочных испытаний пластин и микросхем.
Страницы: 40-44
Список источников
  1. ОСТ В 11 0998-99 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 1999.
  2. ОСТ В 11 1010-2001 «Микросхемы интегральные, бескорпусные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 2001.
  3. ОСТ 11 14.1012-99 «Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля»: Изд-во Минобороны. 1999.
  4. Руководящий документ 22.12.174-94 «Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведения физико-технической экспертизы при оценке качества»: 22 ЦНИИИ МО. 1994.
  5. ОСТ II 073.013-83. Микросхемы интегральные методы испытаний.