350 rub
Journal Science Intensive Technologies №4 for 2012 г.
Article in number:
Definition of optimum structure of tests of plates and microcircuits on presence of defects
Keywords: microcircuit quality refusal tests for presence of defects
Authors:
V.K. Doroshevich, P.V. Doroshevich
Abstract:
In clause recommendations are resulted on to definition of optimum structure tests of plates and microcircuits on presence of defects.
Pages: 40-44
References
  1. ОСТ В 11 0998-99 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 1999.
  2. ОСТ В 11 1010-2001 «Микросхемы интегральные, бескорпусные. Общие технические условия»: Изд-во Минобороны. 2001.
  3. ОСТ 11 14.1012-99 «Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля»: Изд-во Минобороны. 1999.
  4. Руководящий документ 22.12.174-94 «Микросхемы интегральные. Порядок и методы проведения физико-технической экспертизы при оценке качества»: 22 ЦНИИИ МО. 1994.
  5. ОСТ II 073.013-83. Микросхемы интегральные методы испытаний.