Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову micro-hardness
Ю.Ф. Иванов - д.ф.-м.н., профессор, вед. науч. сотрудник, Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск. Е-mail: yufi55@mail.ru
Е.А. Петрикова - аспирант, Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск. Е-mail: elizmarkova@yahoo.com
А.Д. Тересов - мл. науч. сотрудник, Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск. Е-mail: tad514@sibmail.com
П.В. Москвин - аспирант, Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск. Е-mail: pavelmoskvin@mail.ru
Е.А. Будовских - науч. сотрудник, Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск. Е-mail: yufi55@mail.ru
Н.Н. Коваль - д.т.н., профессор, вед. науч. сотрудник, Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск. Е-mail: elizmarkova@yahoo.com
Н.В. Бибик - аспирант, Белорусский государственный университет, Минск, Беларусь. Е-mail: Cherenda@bsu.by
Н.Н. Черенда - к.ф.-м.н., доцент, Белорусский государственный университет, Минск, Беларусь. Е-mail: Cherenda@bsu.by
В.В. Углов - д.ф.-м.н., профессор, Белорусский государственный университет, Минск, Беларусь. Е-mail: Uglov@bsu.by