Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову flash cell failure analysis
Диагностика дефектов ячеек энергонезависимой памяти методом контактной сканирующей емкостной микроскопии
Ю.Л. Шиколенко - аспирант, Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники (МИРЭА)