Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову an intermediate layer
Моделирование структуры материала для описания частотной зависимости диэлектрической проницаемости кварцевого стекла

В.П. Крылов

АО «ОНПП «Технология» им А.Г. Ромашина» (Москва, Россия)

Моделирование отклонений в законах Френеля для отраженной волны

В.П. Крылов 1

1 АО «ОНПП «Технология» им А.Г. Ромашина» (г. Обнинск, Россия)

1 info@technologiya.ru