Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову рентгенография
Анализ отказов электронных элементов и интегральных схем
В.А. Сметанников - аспирант, кафедра радиопередающих устройств, Московский Государственный Институт Радиотехники Электроники и Автоматики, инженер отдела главного конструктора ОАО НПО ЛЭМЗ. E-mail: smits77@yandex.ru
Микрофокусная рентгенография - инновационная технология медицинской диагностики
Н.Н. Потрахов - д.т.н., профессор, зав. кафедрой, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет им. В.И. Ульянова (Ленина) «ЛЭТИ». E-mail: evg2214@yandex.ru
Кристаллическая структура, локальный атомный и магнитный порядок в нанокристаллических сплавах Fe<sub>85</sub>B<sub>15</sub> и Fe<sub>77</sub>B<sub>23</sub>
В.С. Покатилов - д.ф.-м.н., профессор, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: pokatilov@mirea.ru Н.Б. Дьяконова - ведущий научный сотрудник, Государственный научный центр ЦНИИЧермет им. И.П. Бардина, Москва. E-mail: n-dyakonova@yandex.ru Т.Г. Дмитриева - инженер, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail:pokatilov@mirea.ru В.В. Покатилов - мл. науч. сотрудник, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail:pokatilov@mirea.ru А.О. Коновалова - мл. науч. сотрудник, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: a.o.konovalova@gmail.com А.В. Склемин - стажер-исследователь, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: dimasklemin@yandex.ru К.М. Конкин - стажер-исследователь, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail:pokatilov@mirea.ru
Роботизированная система дефектоскопии деталей из полимерных композитных материалов
Р.А. Файзрахманов - д.э.н., к.т.н., профессор, зав. кафедрой «Информационные технологии и автоматизированные системы», Пермский национальный исследовательский политехнический университет. E-mail: fayzrakhmanov@gmail.com Р.Т. Мурзакаев - к.т.н., доцент, кафедра «Информационные технологии и автоматизированные системы», Пермский национальный исследовательский политехнический университет. E-mail: rustmur@gmail.com Р.Р. Бакунов - аспирант, ассистент, кафедра «Информационные технологии и автоматизированные системы», Пермский национальный исследовательский политехнический университет. E-mail: bakunov_roman@mail.ru А.С. Мехоношин - аспирант, ассистент, кафедра «Информационные технологии и автоматизированные системы», Пермский национальный исследовательский политехнический университет. E-mail: akropag@mail.ru
Исследование локальных состояний ионов железа в перовскитах La<sub>1-x</sub>Sr<sub>x</sub>Co<sub>0.98</sub><sup>57</sup>Fe<sub>0.02</sub>O<sub>3-y</sub> (x = 0,00; 0,25) методом эффекта Мёссбауэра
А.С. Сигов - д.ф-м.н., профессор, академик РАН, президент Московского технологического университета (МИРЭА). E-mail: pokatilov@mirea.ru В.С. Покатилов - д.ф-м.н., профессор, Московский технологический университет (МИРЭА). E-mail: pokatilov@mirea.ru А.О. Макарова - к.ф-м.н., ст. науч. сотрудник, Московский технологический университет (МИРЭА). E-mail: a.o.konovalova@gmail.com В.В. Покатилов - мл. науч. сотрудник, Московский технологический университет (МИРЭА). E-mail: v_pokatilov@mirea.ru В.В. Китаев - к.т.н., науч. сотрудник, Южный федеральный университет (г. Ростов-на Дону). E-mail: ktv2001@mail.ru Е.Ф. Певцов - к.т.н., директор центра, Московский технологический университет (МИРЭА). E-mail: pevtsov@mirea.ru
Рентгенографический метод оценки качества семян сахарной свеклы

О.А. Подвигина1, Н.Н. Потрахов2, Е.Н. Староверов3, Ю.Н. Потрахов4

1 ФГБНУ «ВНИИСС им. А.Л. Мазлумова» (Воронежская обл., Россия)

2–4 Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет  «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Санкт-Петербург, Россия)