К. А. Валиев - академик РАН, Советник РАН, зав. кафедрой физических и технологических проблем микроэлектроники, Физико-технологический институт РАН E-mail: valiev@ftian.ru В. В. Вьюрков - к.ф.-м.н., доц. кафедры физических и технологических проблем микроэлектроники, Физико-технологический институт РАН, вед. научн. сотрудник ФТИАН E-mail: vyurkov@ftian.ru А. А. Орликовский - академик РАН, зам. зав. кафедрой физических и технологических проблем микроэлектроники МФТИ, директор, ФТИАН E-mail: orlikovsky@ftian.ru

С.С. Анцыферов – д.т.н., профессор,  кафедра метрологии и стандартизации, МИРЭА – Российский технологический университет (Москва) E-mail: c_standard@fel.mirea.ru

К.Н. Фазилова – ассистент,  кафедра метрологии и стандартизации, «МИРЭА – Российский технологический университет (Москва)

E-mail: fazilova@mirea.ru

Д.С. Трофимов – генеральный директор, НПП «Торий» (Москва) 

Ф.К. Алиев – д.ф.-м.н., вед. советник, Главное управление развития информационных и телекоммуникационных технологий МО РФ

А.В. Корольков – к.т.н., доцент, зав. кафедрой, чл.-корр. Академии криптографии РФ, РТУ МИРЭА (Москва); зав. лабораторией, Академия криптографии РФ

Е.А. Матвеев – директор НТП «Криптософт» (г. Пенза)

С.С. Орлов – сотрудник, Изд-во ТВП (Москва)

И.А. Шеремет – чл.-корр. РАН, д.т.н., профессор, зам. директора РФФИ (Москва)

Ф.К. Алиев1, А.В. Корольков2,  Е.А. Матвеев3

1 Департамент информационных систем МО РФ (Москва, Россия)

2 Российский технологический университет – МИРЭА (Москва, Россия)

3 Научно-техническое предприятие «Криптософт» (г. Пенза, Россия)

В.И. Терехов1, Б.С. Горячкин2

1,2 МГТУ им. Н.Э. Баумана (Москва, Россия)