Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову Сканирующая туннельная микроскопия
Влияние морфологии поверхности на коэрцитивную силу пленок Fe/SiO2/Si(100)
Ю.В. Никулин, В.К. Сахаров
Кремниевый транзистор с каналом-нанопроводом из неравномерно легированного кремния на изоляторе
С.В. Амитонов - аспирант, физический факультет, МГУ. E-mail: sam-msu@yandex.ru Д.Е. Преснов - к.ф.-м.н.. ст. науч. сотрудник, отдел микроэлектроники, НИИЯФ, МГУ. E-mail: denis.presnov@phys.msu.ru В.А. Крупенин - к.ф.-м.н.. ст. науч. сотрудник, физический факультет, МГУ. E-mail: vladimir.krupenin@phys.msu.ru
Исследование электронных свойств одиночных нанокристаллов СdTe и CdTe/CdSe в сканирующем туннельном микроскопе
А.С. Трифонов - к.ф.-м.н., ст. науч. сотрудник, отдел электроники, НИИЯФ, МГУ. E-mail: artemt73@gmail.com Р.Б. Васильев - к.х.н., доцент, факультет наук о материалах, МГУ. E-mail: romvas@inorg.chem.msu.ru И.С. Езубченко - аспирант, Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт». E-mail: ezivan9@gmail.com М.С. Соколикова - студент, факультет наук о материалах, МГУ. E-mail: msokolikova@gmail.com Д.Р. Бритов - студент, физический факультет, МГУ. E-mail: britov.denis@physics.msu.ru Д.Е. Преснов - к.ф.-м.н., ст. науч. сотрудник, отдел микроэлектроники, НИИЯФ, МГУ. E-mail: denis.presnov@phys.msu.ru О.В. Снигирев - профессор, гл. науч. сотрудник, физический факультет, МГУ. E-mail: oleg.snigirev@phys.msu.ru
Технологическое использование наночастиц металлов при изменении температуры
Д.Н. Соколов - аспирант, Тверской государственный университет. Е-mail: dnsokolov@mail.ru Н.Ю. Сдобняков - к.ф-м.н., доцент, Тверской государственный университет. Е-mail: nsdobnyakov@mail.ru А.Ю. Колосов - аспирант, Тверской государственный университет. Е-mail: kolosov-au@yandex.ru Н.В. Новожилов - аспирант, Тверской государственный университет. Е-mail: nnowhereman@gmail.com А.С. Антонов - аспирант, Тверской государственный университет. Е-mail: s014451@mail.ru
Одноэлектронный транзистор из высоколегированного кремния на изоляторе
Д. Е. Преснов - к. ф.-м. н., ст. научн. сотрудник, Отдел микроэлектроники, НИИЯФ, Московский Государственный Университет. E-mail: denis.presnov@phys.msu.ru С. В. Амитонов - аспирант, физический факультет, Московский Государственный Университет. E-mail: sam-msu@yandex.ru В.С. Власенко - руководитель департамента Научного и Промышленного Материаловедения, ООО «ОПТЭК» (Москва). E-mail: vlasenko@optecgroup.com В. А. Крупенин - к. ф.-м. н., ст. научн. сотрудник, физический факультет, Московский Государственный Университет. E-mail: vladimir.krupenin@phys.msu.ru
Одноэлектронный транзистор из высоколегированного кремния на изоляторе
Д. Е. Преснов - к. ф.-м. н., ст. научн. сотрудник, Отдел микроэлектроники, НИИЯФ, Московский Государственный Университет. E-mail: denis.presnov@phys.msu.ru С. В. Амитонов - аспирант, физический факультет, Московский Государственный Университет. E-mail: sam-msu@yandex.ru В.С. Власенко - руководитель департамента Научного и Промышленного Материаловедения, ООО «ОПТЭК» (Москва). E-mail: vlasenko@optecgroup.com В. А. Крупенин - к. ф.-м. н., ст. научн. сотрудник, физический факультет, Московский Государственный Университет. E-mail: vladimir.krupenin@phys.msu.ru
Влияние динамической кулоновской блокады на туннельные характеристики поверхности Si(111)?7x7
А.Б. Одобеско - науч. сотрудник, ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (Москва). E-mail: arty@cplire.ru А.А. Майзлах - инженер, ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (Москва) С.В. Зайцев-Зотов - д.ф.-м.н., зав. лабораторией, ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН (Москва)
Топология и фрактальная размерность поверхности сталей в отожженном состоянии

Л.П. Арефьева – к.ф-м.н., доцент, Донской государственный технический университет (г. Ростов-на-Дону)  E-mail: Ludmilochka529@mail.ru

Ю.В. Долгачев – к.т.н., доцент, Донской государственный технический университет (г. Ростов-на-Дону)

E-mail: yudol@mail.ru