350 руб
Журнал «Наукоемкие технологии» №2 за 2013 г.
Статья в номере:
Исследование влияния качества материалов на качество микросхем
Авторы:
В.К. Дорошевич - д.т.н., ст. науч. сотрудник, исполнительный директор,
Федеральный фонд «Развитие электронной техники»
Аннотация:
Показано влияние качества материалов на качество микросхем.
Страницы: 15-17
Список источников
- Справочник. Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем. 22 ЦНИИИ МО РФ. 1983.
- тчет о НИР «Исследование путей совершенствования системы обеспечения качества электрорадиоизделий военного назначения». 22 ЦНИИИ МО РФ. 1987 .
- Отчет о НИР «Исследование путей совершенствования системы обеспечения и контроля качества электрорадиоизделий военного назначения», «Примыкание-1». Инв. 475. 22 ЦНИИИ МО РФ. 1989.
- Дорошевич В.К. Влияние качества материалов на качество микросхем // Материалы Междунар. научно-технич. конф. «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». Москва. 25-28 октября 2005 г.