А.А. Мальцев1, И.А. Мальцев2, З.Р. Идиатуллов3

1,3 Казанский национальный технический университет им. А.Н. Туполева (г. Казань, Россия)

2 Научно-инженерный центр «Инкомсистем» (г. Казань, Россия)

1 malcev_@mail.ru; 2 stronghold1655@yandex.ru; 3 zridiatullov@prof.kai.ru

Постановка проблемы. В настоящее время в связи с тенденцией к снижению энергозатрат неразрушающий входной контроль различных характеристик светодиодов становится перспективным направлением для исследования. Оптимальным вариантом можно считать 100%-ный контроль всех изделий по всем характеристикам, но увеличивающиеся при этом экономические затраты приводят к удорожанию изделий светодиодной техники. Кроме того, отсутствие маркировки на компонентах не позволяет в процессе тестирования отделить визуально качественные светодиоды известных брендов от контрафактных компонентов.

Цель. Определить оптимальный набор параметров по их технологическому разбросу для обеспечения качества и надежности светодиодов на базе анализа их электрических, световых и тепловых характеристик.

Результаты. Экспериментально определен ограниченный набор параметров светодиодов на основании анализа их электрических, световых и тепловых характеристик. Установлено, что полученный набор может быть применен при экспресс-диаг-ностике светодиодов для уменьшения экономических затрат при производстве и контроле, а также временных затрат при процедуре отбраковки разработчиками. Проведено исследование технологического разброса характеристик для партии из 50 диодов ARL2-5053URS-2cd и ARL2-5053 UWC-1,8cd. Установлено что наиболее информативными для прогнозирования качества и надежности являются световые и тепловые характеристики.

Практическая значимость. Представленные результаты подтверждают возможность использования разброса световых и тепловых характеристик в партии для обеспечения качества и надежности сверхъярких светодиодов.

Мальцев А.А., Мальцев И.А., Идиатуллов З.Р. Оптимальный набор характеристик светодиодов для обеспечения их надежности и качества // Радиотехника. 2024. Т. 88. № 1. С. 86−91. DOI: DOI: https://doi.org/10.18127/j00338486-202401-08

1. Костюков А.С. Метод определения параметров качества электронных средств // Радиотехника. 2023. Т. 87. № 8. С. 49-53. DOI: https://doi.org/10.18127/j00338486-202308-08.
2. Зудов Р.И., Сороцкий В.А. Новая элементная база для ключевых усилителей мощности ВЧ-диапазона // Радиотехника. 2018. Т. 82. № 1. С. 100-103.
3. Сухов В.В., Екшембиев С.Х. Определение надежности радиоэлектронной аппаратуры на основе моделирования прочности // Радиотехника. 2019. Т. 83. № 11(17). С. 66-72. DOI: 10.18127/j00338486-201911(17)-07.
4. Сидорчук В.П., Цуприян В.А. Прогнозирование технического состояния радиоэлектронного оборудования // Радиотехника. 2017. № 11. С. 104-110.
5. Мальцев И.А. Экспресс контроль теплового сопротивления полупроводниковых приборов в режиме докритических тепловых воздействий: дисс. канд. техн. наук: 05.11.13: защищена 07.10.16: утв. 09.02.17. Казань. 2016. 132 с.
6. Иванова В.Р. Разработка новых показателей для входного контроля качества светодиодов // Известия вузов. Проблемы энергетики. 2011. № 7-8. С. 156-160.
7. Мальцев И.А. Контроль качества и надежности светодиодов по тепловому сопротивлению p-n-переход корпус // Полупроводниковая светотехника. 2010. № 2. С. 40-41.
8. Смирнов В.И. Сергеев В.А., Гавриков А.А., Шорин А.М. Измерение теплового импеданса мощных транзисторов // Радиотехника. 2017. № 6. С. 83-90.
9. Мальцев И.А. Способ быстрого измерения температурного коэффициента напряжения светодиодов // Полупроводниковая светотехника. 2015. № 2(34). С. 36-38.
10. Патент № 2529761 (РФ), МПК G01R 31/00. Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус полупроводнико-вых приборов и устройство для его реализации. / И.А. Мальцев, А.А. Мальцев; заявитель и патентообладатель ФГБОУ ВПО «Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н. Туполева–КАИ» (RU). № 2013118507/28; заявл. 22.04.2013; опубл. 27.09.2014. Бюл. № 27.