350 руб
Журнал «Радиотехника» №7 за 2012 г.
Статья в номере:
Алгоритмы совместного обнаружения и пеленгования в широкой полосе обзора
Ключевые слова: источники радиоизлучения радиопеленгация совместное обнаружение оценивание широкая полоса обзора сигнальное подпространство
Авторы:
М.Е. Шевченко - к.т.н., доцент, кафедра радиоэлектронных средств, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина). E-mail: M_E_Shevchenko@mail.ru
Аннотация:
Рассмотрены алгоритмы совместного обнаружения и пеленгования множества источников радиоизлучения в широкой полосе обзора, разработанные на основе методов с частотной селекцией и на основе методов сигнальных подпространств. Приведены оценки азимута и квадратурных составляющих сигналов при перекрытии спектров реальных сигналов.
Страницы: 71-77
Список источников
  1. Рембровский В. Г., Ашихмин А. В., Козьмин В. А. Радиомониторинг: задачи, методы, средства. М.: Горячая линия - Телеком. 2006.
  2. Денисов В. П., Дубинин Д. В. Фазовые пеленгаторы. Томск: Изд-во Томского ун-та систем управления и радиоэлектроники. 2002.
  3. Трифонов А. Г., Шинаков Ю. С. Совместное различение сигналов и оценка их параметров на фоне помех. М.: Радио и связь. 1986.
  4. Zoltowski M. D., Cherian M. P. Real-time frequency and 2-D angle estimation with sub-Nyquist spatio-temporal sampling // IEEE Trans. on sign. proc. 1994. V. SP-42, № 10. P. 2781-2792.
  5. Roy R., Kailath T.ESPRIT-Estimation of signal parameters via rotational invariance techniques // IEEE Trans. on acoust., speech, signal process. 1989. V. ASSP-37. №. 7. P. 984-995.
  6. Шевченко М. Е., Чемаров А. О.Обнаружение и оценивание параметров источников радиоизлучения в широкой полосе обзора. СПб.: Изд. СПбГЭТУ «ЛЭТИ». 2010.
  7. Чемаров А. О., Шевченко М. Е. Алгоритм фазового пеленгования в широкой полосе обзора с проверкой перекрытия сигналов по частоте // Цифровая обработка сигналов. 2009. № 1. С. 11-17.
  8. Lemma A. N., Van der Veen A. J. Analysis of joint angle-frequency estimation using ESPRIT // IEEE Trans. on sign. proc. 2003. V. SP-51. № 5. P. 1264-1283.