350 руб
Журнал «Нанотехнологии: разработка, применение - XXI век» №2 за 2010 г.
Статья в номере:
Управление взаимозависимыми автокорреляционными параметрами надежности межсоединений микро- и наноэлектронной аппаратуры для проведения аноповерхностной низкотемпературной термодиффузии
Ключевые слова:
наноповерхностная термодиффузия
Авторы:
О.И. Атакищев, В.В. Емельянов, В.М. Емельянов, Ю.Н. Кривов - Курский государственный технический университет; НПП «ЛАМА» (г. Рыбинск Ярославской обл.). E-mail: aoi007@mail.ru; wemelyanov@yandex.ru; emelianov@nm.ru; yu269kr@yandex.ru
Аннотация:
Представлены результаты работы по обеспечению требуемых значений параметров надёжности межсоединений многослойных печатных плат (МПП) с учетом построения приборов автоматизированной системы управления технологическими процессами, применяемых с использованием автокорреляционных функций, установленных по результатам форсированных испытаний, с определением режимов процесса наноповерхностной термодиффузии.
Страницы: 42-47
Список источников
- Емельянов В. М. Автоматизация управления надежности, физико-механическими и электрическими параметрами межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры. Курск: Курск. гос. техн. ун-т. 1998. 311 с.
- Атакищев О.И., Емельянов В.В., Емельянов В.М., Ковалевич И.А. Динамическое математическое прогнозирование характеристик надежности по взаимозависимым параметрам межсоединений микроэлектронной аппаратуры на основе многомерных автокорреляционных функций // Секция 8: материалы 27-й военно-научн. конф. 5-6 окт. 2007 г. Войсковая часть 25714. Курск. 2007. С. 89 - 91.
- Емельянов В.М., Шуклин И.И., Носорев С.Ю., Емельянов В.В. Моделирование надежностных показателей межсоединений телеметрических систем управления с многомерными корреляционно связанными параметрами // Телекоммуникации. 2009. № 10. С. 42 - 46.
- Емельянов В. М., Атакищев О.И., Емельянов В.В., Ковалевич И.А. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры по многомерным автокорреляционным функциям // Материалы ХIII Междунар. конф. и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, качества, информационно-телекоммуникационных и электронных технологий в управлении инновационными проектами». Ч.1. М.: Энергоатомиздат. 2008. С. 34, 103.
- Емельянов В.М., Емельянов В.В. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры, изготовленной с использованием нанотехнологии // Материалы научно-практ. конф. «Нанотехнологии - производству 2008». г. Фрязино. 2008.