350 rub
Journal Nanotechnology : the development , application - XXI Century №2 for 2010 г.
Article in number:
Management in Interdependent Autocorrelation Parameters of Dependability of Interconnection Wiring the Micro- and Nano Electronic Installation for Carrying Out of Nanosuperficial Low Temperature Thermodiffusion
Keywords: nanosuperficial thermodiffusion
Authors:
Atakischev O.I., Emel'yanov V.V., Emel'yanov V. M., Krivov Yu.N.
Abstract:
The paper presents the results of work on maintenance of demanded values of parameters of dependability of interconnection wiring Multilayered printed-circuit-boards in view of construction of devices of the automated management system by the procedure, the autocorrelation functions applied with use mounted by results of burn-in testing, with definition of modes of process nanosuperficial are presented to thermodiffusion
Pages: 42-47
References
  1. Емельянов В. М. Автоматизация управления надежности, физико-механическими и электрическими параметрами межсоединений интегрированной микроэлектронной аппаратуры. Курск: Курск. гос. техн. ун-т. 1998. 311 с.
  2.  Атакищев О.И., Емельянов В.В., Емельянов В.М., Ковалевич И.А. Динамическое математическое прогнозирование характеристик надежности по взаимозависимым параметрам межсоединений микроэлектронной аппаратуры на основе многомерных автокорреляционных функций // Секция 8: материалы 27-й военно-научн. конф. 5-6 окт. 2007 г. Войсковая часть 25714. Курск. 2007. С. 89 - 91.
  3. Емельянов В.М., Шуклин И.И., Носорев С.Ю., Емельянов В.В. Моделирование надежностных показателей межсоединений телеметрических систем управления  с многомерными корреляционно связанными параметрами // Телекоммуникации. 2009. № 10. С. 42 - 46.
  4. Емельянов В. М., Атакищев О.И., Емельянов В.В., Ковалевич И.А. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры по многомерным автокорреляционным функциям // Материалы ХIII Междунар. конф. и Российской научной школы «Системные проблемы надежности, качества, информационно-телекоммуникационных и электронных технологий в управлении инновационными проектами». Ч.1. М.: Энергоатомиздат. 2008. С. 34, 103.
  5. Емельянов В.М., Емельянов В.В. Решение обратной задачи динамического математического моделирования надежностных характеристик межсоединений силовой микроэлектронной аппаратуры, изготовленной с использованием нанотехнологии // Материалы научно-практ. конф. «Нанотехнологии - производству 2008». г. Фрязино. 2008.