350 руб
Журнал «Наноматериалы и наноструктуры - XXI век» №3 за 2013 г.
Статья в номере:
Микроскопия сверхвысокого разрешения материалов с высокой нелинейностью
Ключевые слова: нанокристаллический материал темплат пористый анодный оксид алюминия фото люминесценция наночастица генерация второй гармоники нелинейная микроскопия
Авторы:
Е.Д. Мишина - д.ф.-м.н., профессор, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: mishina_elena57@mail.ru Н.Э. Шерстюк - к.ф.-м.н., доцент, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: nesherstuk@mail.ru С.В. Семин - к.т.н., стажер-исследователь, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: seminsergv@gmail.com С.Д. Лавров - аспирант, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: lav33@mail.ru
Аннотация:
Предложен новый метод микроскопии сверхвысокого разрешения, использующий высокие нелинейности материала, как оптические, так и связанные с лазерно-индуцированными фазовыми переходами; рассмотрены примеры микроскопии сверхлюминесценции биоорганических пептидных микротрубок, в том числе при их отжиге и фазовом переходе.
Страницы: 38-43
Список источников

  1. Hell S.W. Microscopy and its focal switch // Nat. Methods. 2009. V. 6. P. 24.
  2. N-SIM Super-Resolution, http://www.nikoninstruments.com/
  3. Leica STED microscope,http://www.letsgodigital.org/en/11610/leica_microscope/
  4. Xu C., Webb W.W. Measurement of two-photon excitation cross sections of molecular fluorophores with data from 690 to 1050 nm // J. Optic. Soc. Am. 1996. B 13,P. 481-491.
  5. Cox G., Sheppard C.J.R. Practical Limits of Resolution in Confocal and Non-Linear Microscopy // Microscopy Research And Technique. 2004. V. 63. P. 18-22.
  6. HaS.K., SongJ.D., LimJ.Y.,BounouarS., DonatiniF., DangL.S., PoizatJ.P., KimJ.S., ChoiW.J., HanI. K., Lee J.I. Growth and characterization of low density droplet GaAs quantum dots for single photon sources // Proc. of SPIE. 2011. V. 7945 79452H-1.
  7. Andreeva E.V., Zhukov A.E., Prokhorov V.V., Ustinov V.M., Yakubovich S.D. Superluminescent inas/algaas/gaas quantum dot heterostructure diodes emitting in the 1100 - 1230-nm spectral range // Quantum Electronics. 2006. V. 36. N. 6. P. 527-531.
  8. Groiss H., Kaufmann E., Springholz G., Schwarzl T., Hesser G., Sch¨affler F., Heiss W., Koike K., Ikatura T., Hotei T., Yano M., Wojtowicz T. Size-controlled quantum dots fabricated by precipitation of epitaxially grown, immiscible semiconductor heterosystems // J. Phys.: Condens. Matter. 2008. V. 20. 454216, P. 1-4.
  9. Емельянов В.И., Каменев Б.В., Кашкаров П.К., Константинова Е.И., Тимошенко В.Ю., Теруков Е.И., Бреслер М.С., Гусев О.Б. Сверхлюминесценция Er3+ в матрице аморфного кремния // Физика твёрдого тела. 2000. Т. 42. Вып. 8. С. 1372-1375.
  10. Семин С.В., Кудрявцев A.В., Мишина Е.Д. Автоматизированный двухфотонный сканирующий микроскоп // ПТЭ. 2012. Вып. 1. С. 1-7.  
  11. Семин С.В., Мишина Е.Д. Двухфотонный сканирующий микроскоп // Патент РФ на изобретение № 2472118 от 10.01.2013.
  12. Мишина Е.Д., Семин  С.В., Шерстюк  Н.Э., Лавров С.Д. Двухфотонный сканирующий микроскоп с автоматической точной фокусировкой изображения и способ автоматической точной фокусировкой изображения // 2012. Заявка о выдаче патента РФ на изобретение № 2012135405.
  13. Stanciu C.D., Hansteen F., Kimel A.V., Kirilyuk A., Tsukamoto A., Itoh A., Rasing Th. All-Optical Magnetic Recording with Circularly Polarized Light // PRL. 2007. V. 99. 047601.
  14. Firsova N.Yu., Mishina E.D., Sigov A.S., Senkevich S.V., Pronin I.P., Kholkin A., Bdikin I., Yuzyuk Yu.I. Femtosecond Infrared Laser Annealing of PZT Films on a Metal Substrate // Ferroelectrics. 2012. V. 433. N. 1. P. 164-169.
  15. Bdikin I.K., Bystrov V.S., S. Kopyl , Rui P G Lopes , Delgadillo I., Gracio J., Mishina E. D., Sigov A.S. Evidence of Ferroelectricity and phase transition in pressed diphenylalanine peptide nanotubes // Appl. Phys. Lett. 2012. V. 100.043702.