350 руб
Журнал «Информационно-измерительные и управляющие системы» №10 за 2016 г.
Статья в номере:
Оценка вероятности обнаружения отказов при распределенном аппаратном контроле логических мультиконтроллеров
Ключевые слова: матричный логический мультиконтроллер отказоустойчивость аппаратный контроль
Авторы:
Тейн Тун Ньюнт - аспирант, кафедра информационных систем и технологий, Юго-Западный государственный университет (г. Курск) E-mail: htunnyunt@mail.ru
Аннотация:
Выполнена оценка вероятности обнаружения локальных отказов в матричных логических мультиконтроллерах при использовании методов распределенного аппаратного контроля. Исследованы зависимости указанной вероятности от размерности топологической структуры мультиконтроллера и контролирующей способности отдельных блоков контроля.
Страницы: 55-60
Список источников

 

  1. Емельянов С.Г., Зотов И.В., Титов В.С. Архитектура параллельных логических мультиконтроллеров. М.: Высшая школа. 2009. 233 с.
  2. Takanami I. Built-in self-reconfiguring systems for fault tolerant mesh-connected processor arrays by direct spare replacement // Proc. IEEE Intl Symp. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. 24-26 Oct. 2001. IEEE. 2001. P. 134-142.
  3. Лаходынова Н.В., Воробьев В.А., Еремина Н.Л. Отказоустойчивость однородных процессорных матриц. Томск: Изд-во Томского архит.-строит. ун-та. 2002. 153 с.
  4. Al Azzeh J., Borzov D.B., Zotov I.V., Skopin D.E., Al Hadidi M. An Approach to Achieving Increased Fault-Tolerance and Availability of Multiprocessor-Based Computer Systems // Australian Journal of Basic and Applied Sciences. April 2014. № 8(6). Р. 512-522.
  5. Дианов В.Н. Диагностика и надежность автоматических систем. М.: МГИУ. 2005. 160 с.
  6. Черкесов Г.Н. Надежность аппаратно-программных комплексов. СПб: Питер. 2005. 478 с.
  7. Rajski J., Kassab T.M., Mukherjee N. Embedded Deterministic Test // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 2004. V. 23. № 5. Р. 776-792.
  8. Sun-Yuan Hsieh, Chi-Ya Kao. The Conditional Diagnosability of k-Ary n-Cubes under the Comparison Diagnosis Model // IEEE Transactions on Computers. 2013. V. 62. № 4. Р. 839-843.
  9. Cota E., Kastensmidt F.L., Cassel M., Herve M., Almeida P., Meirelles P., Amory A., Lubaszewski M. A high-fault-coverage approach for the test of data, control and handshake interconnects in mesh networks-on-chip // IEEE Transactions on Computers, 2008. V. 57. № 9. Р. 1202-1215.
  10. Бредихин Р.В., Нян Лин, Зотов И.В. Об организации встроенного аппаратного взаимоконтроля в логических мультиконтроллерах // Изв. вузов. Сер. Приборостроение. 2013. Т. 56. № 6. С. 44-49.
  11. Зотов И.В., Бредихин Р.В., Лисицин Л.А., Нян Лин. Принципы организации встроенного аппаратного межмодульного взаимоконтроля в матричных логических мультиконтроллерах // Известия Юго-Западного государственного универси­тета. Сер. Управление, вычислительная техника, информатика. Медицинское приборостроение. 2013. № 1. С. 202-208.
  12. Al-Azzeh Jamil Samih, Leonov M.E., Skopin D.E., Titenko E.A., Zotov I.V. The Organization of Built-in Hardware-Level Mutual Self-Test in Mesh-Connected VLSI Multiprocessors // International Journal on Information Technology. 2015. V. 3. № 2. Р. 29-33.
  13. Нян Лин. Параллельный алгоритм и аппаратные средства межмодульного взаимоконтроля логических мульти­контроллеров // Известия Юго-Западного государственного университета. Сер. Управление, вычислительная техника, информатика. Медицинское приборостроение. 2015. № 3 (16). С. 62-67.
  14. Зотов И.В., Тейн Тун Ньюнт, Мое Мин Вин. Один подход к организации распределенного аппаратного контроля мат­ричных логических мультиконтроллеров // Информационно-измерительные и управляющие системы. 2016. № 6. Т. 14. С. 39-45.