350 руб
Журнал «Информационно-измерительные и управляющие системы» №9 за 2014 г.
Статья в номере:
Моделирование логического элемента LUT FPGA с контролем
Ключевые слова: логический элемент ПЛИС FPGA - LUT рабочий контроль тестовый контроль интенсивность отказов (сбоев) достоверность вероятность обнаружения ошибок конфигурационная память SRAM моделирование в среде NI Multisim управляющие системы
Авторы:
С. Ф. Тюрин - д.т.н., профессор, кафедра «Автоматика и телемеханика», ФГБОУ ВПО «Пермский национальный исследовательский политехнический университет». Е-mail: tyurinsergfeo@yandex.ru А. Ю. Городилов - науч. сотрудник, кафедра «Автоматика и телемеханика», ФГБОУ ВПО «Пермский национальный исследовательский политехнический университет». Е-mail: gora830@yandex.ru А. А. Байдаров - к.т.н., науч. сотрудник, кафедра «Автоматика и телемеханика», ФГБОУ ВПО «Пермский национальный исследовательский политехнический университет». Е-mail: cchp@bk.ru
Аннотация:
Описано моделирование логического элемента программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) FPGA (field-programmable gate array) ? LUT (Look Up Table) с предлагаемыми средствами контроля вычислений заданных настройкой конфигурационной памяти SRAM (Static Random Access Memory) логических функций. Моделирование LUT с четырьмя настроечными входами выполняется в среде NI Multisim.
Страницы: 35-43
Список источников

  1. Цыбин С. Программируемая коммутация ПЛИС: взгляд изнутри. URL: http://www.kit-e.ru/articles/plis/2010_11_56.php
  2. Tyurin S.F.Retention of functional completeness of Boolean functions under «failures» of the arguments //Automation and Remote Control. 1999. V. 60 (9 Pt. 2). P. 1360-1367.
  3. ТюрiнС.Ф., ГромовО.А., ГрековА.В., Понуровскiй I.С. Адаптация FPGA довiдмовилогiки// Радiоелектроннi i комп-ю­тернi системы. 2013. № 1(60). С. 177-182.
  4. Городилов А.Ю., Понуровскiй I.С., Тюрiн С.Ф. Повышение отказоустойчивости FPGAпутем реконфигурации работоспособных элементов // Радiоелектроннii комп-ютернi системы. 2013. № 1(60). С. 172-176.
  5. Тюрин С.Ф. Логические элементы с избыточным базисом // Вестник Пермского ун-та. Сер.«Математика. Механика. Информатика». 2013. № 4. С. 42-59.
  6. Тюрин С.Ф., Громов О.А., Греков А.В., Сулейманов А.А. Функционально-полный толерантный элемент. Патент РФ № 2 496 227.Опубл. БИ. 20.10.13. №29.
  7. Tyurin S.F., Grekov A.V., Gromov O.A.The principle of recovery logic FPGA for critical applications by adapting to failures of logic elements //World Applied Sciences Journal. 2013. V. 26(3). P. 328-332 [doi: 10.5829/idosi.wasj.2013.26.03.13474].
  8. Tyurin S.F., Gromov O.A.A residual basis search algorithm of fault-tolerant programmable logic integrated circuits// Russian Electrical Engineering. 2013. V. 84(11). P. 647-651 [doi: 10.3103/S1068371213110163].
  9. Tyurin S., Kharchenko V. Redundant basises for critical systems and infrastructures general approach and variants of implementation // Proceedings of the 1st Intrenational Workshop on Critical Infrastructures Safety and Security. Kirovograd, Ukraine. 11-13 May 2011 / Ed. byV. Kharchenko, V. Tagarev. 2011. V. 2. Р. 300-307.
  10. Тюрин С.Ф. Надежность систем автоматизации: учеб. пособие. Перм. нац. исслед. политехн. ун-т. Пермь: Изд-воПНИПУ. 2012. 262 с.
  11. Mayer D.C., Lacoe R.C. Designing Integrated Circuits to Withstand Space Radiation. V. 4. № 2. Crosslink.http://www.aero.org/publications/crosslink/summer2003/06.html
  12. ТюринС.Ф., МорозовА.Н. Отказоустойчиваяячейкапамятисиспользованиемфункционально-полныхтолерантныхэлементов // Вестник Пермского ун-та. Сер. «Математика. Механика. Информатика». 2012. № 4. С. 68-75.
  13. Тюрин С.Ф., Байдаров А.А., Набатов А.В., Морозов А.Н. Моделирование в системе Квартус-2 конфигурируемого логи­ческого блока на основе ДНФ представления систем логических функций с использованием функционально-полных толерантных элементов // Информационно-измерительные и управляющие системы. 2012. № 3.
  14. Тюрин С.Ф., Громов О.А., Греков А.В. Функционально-полный толерантный элемент ФПТ // Научно-технич. ведо­мости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. 2011. № 1(115). С. 24-31.