350 руб
Журнал «Информационно-измерительные и управляющие системы» №5 за 2009 г.
Статья в номере:
Автоматизированная измерительная система для исследований радиационной стойкости аналоговых интегральных микросхем
Ключевые слова: микроэлектронная схема понизирующее излучение радиационная стойкость
Авторы:
В.К. Киселев, В.С. Ефимов, А.Н. Лукичев
Аннотация:
Рассмотрена автоматизированная измерительная система как инструмент для исследований воздействия ионизирующего излучения на изделия микроэлектроники при испытании на радиационную стойкость. Применение системы позволяет получить комплексную картину функциональной и параметрической реакции аналоговых микроэлектронных схем на радиационное воздействие.
Страницы: 108-112
Список источников
  1. Мырова Л.О., Чепиженко А.З. Обеспечение радиационной стойкости аппаратуры связи. М.: Радио и связь. 1983.
  2. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В. К вопросу автоматизации контроля специальных изделий микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2003. № 2.
  3. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В., Лукичев А. Н. Разработка системы автоматизированного контроля радиационно-стойких изделий гибридной микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2004. № 4.
  4. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В., Лукичев А. Н. Некоторые вопросы проектирования автоматизированной системы контроля изделий микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2004. № 4.
  5. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Лукичев А. Н., Стройкова А. В. Применение автоматизированного измерительного комплекса при разработке радиационно-стойких изделий гибридной микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2005. № 6.
  6. Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А. Воздействие радиации на интегральные микросхемы. Мн.: Наука и техника. 1986.