350 rub
Journal Information-measuring and Control Systems №5 for 2009 г.
Article in number:
The Automated Measuring System for Researches of Radiation Hardening of Analog Integrated Microcircuits
Authors:
V.K. Kiselev, V.S. Efimov, A.N. Lukichev
Abstract:
There are considered automated measuring system as the tool for researches of environment of an ionizing radiation on products of microelectronics at test for radiation hardening. Application of system allows receive a complex picture of functional and parametrical reaction of analog microelectronic circuits on radiation environment.
Pages: 108-112
References
  1. Мырова Л.О., Чепиженко А.З. Обеспечение радиационной стойкости аппаратуры связи. М.: Радио и связь. 1983.
  2. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В. К вопросу автоматизации контроля специальных изделий микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2003. № 2.
  3. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В., Лукичев А. Н. Разработка системы автоматизированного контроля радиационно-стойких изделий гибридной микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2004. № 4.
  4. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Осокин А. В., Лукичев А. Н. Некоторые вопросы проектирования автоматизированной системы контроля изделий микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2004. № 4.
  5. Сайчев В. П., Ефимов В. С., Лукичев А. Н., Стройкова А. В. Применение автоматизированного измерительного комплекса при разработке радиационно-стойких изделий гибридной микроэлектроники // Конверсия в машиностроении. 2005. № 6.
  6. Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А. Воздействие радиации на интегральные микросхемы. Мн.: Наука и техника. 1986.