350 руб
Журнал «Электромагнитные волны и электронные системы» №1 за 2016 г.
Статья в номере:
Использование вейвлетов для предварительной обработки и определения характеристик спектров катодолюминесценции
Авторы:
С.Е. Степанов - к.ф.-м.н., доцент, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана. E-mail: stepanov@bmstu-kaluga.ru Е.Ю. Агу - магистр, аспирант, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана. E-mail: liza.kornyushina@gmail.com В.Ю. Захаров - к.ф.-м.н., доцент, Калужский филиал МГТУ им. Н.Э. Баумана. E-mail: vladiyuz@mail.ru
Аннотация:
Разработан алгоритм предварительной обработки и анализа сигналов на основе использования вейвлетов, включающий в себя установление типа случайной составляющей сигнала, сглаживание экспериментальных данных, выделение областей локализации пиков. Выполнена обработка спектра катодолюминесценции карбида кремния, иллюстрирующая работу алгоритма.
Страницы: 15-19
Список источников

 

  1. Абдуллаев О.Р., Габельченко А.И., Иванников П.В., Якунин А.С. Исследования кубического нитрида бора методами ЦКЛ и ЦКЛВСР в растровом электронном микроскопе // Наукоемкие технологии. 2013. № 11. С. 84−88.
  2. Стрельченко С.С. Перспективы развития отечественной электроники // Наукоемкие технологии. 2014. № 2. С. 4−9.
  3. Курдюков Д.А., Шишкин И.И, Грудинкин С.А., Ситникова А.А., Заморянская М.В., Голубев В.Г. Исследование структуры пленочных трехмерно-упорядоченных макропористых нанокомпозитов GaN-ZnS:Mn // Физика и техника полупроводников. 2015. Т. 49. № 5. С. 672−676.
  4. Петров В.И. Катодолюминесцентная микроскопия // Успехи физических наук. 1996. Т. 166. № 8. С. 859−871.
  5. Pagel M.et al. (ed.). Cathodoluminescence in geosciences. SpringerScience & BusinessMedia. 2013. 514 с.
  6. Brillson L.J. Applications of depth-resolved cathodoluminescence spectroscopy // Journal of Physics D: Applied Physics. 2012. V. 45. № 18. С. 183001.
  7. Hooge F.N. 1/f noise sources // IEEE Transactions on Electron Devices. 1994. V. 41. № 11. С. 1926−1935.
  8. Коржавый А.П., Никифоров Д.К. Математическое моделирование 1/f шума в твердом теле со структурными дефектами // Материалы Всерос. конф. «Математика и механика в современном мире». Калуга. 2001. С. 190−201.
  9. Никифоров Д.К., Коржавый А.П. Физические основы электрофлуктуационной диагностики дефектности металлических пленок // Материалы Междунар. научно-практич. конф. «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». М.: 2003. С. 321−322.
  10. Gençay R., Gradojevic N. Errors-in-variables estimation with wavelets // Journal of Statistical Computation and Simulation. 2011. V. 81. № 11. С. 1545−1564.
  11. Donoho D.L., Johnstone J.M. Ideal spatial adaptation by wavelet shrinkage // Biometrika. 1994. V. 81. № 3. P. 425−455.