350 руб
Журнал «Электромагнитные волны и электронные системы» №11 за 2012 г.
Статья в номере:
Электрические флуктуации и дефекты структуры в полупроводниках
Ключевые слова: флуктуации шум дефекты полупроводники
Авторы:
Б.И. Якубович - к.ф.-м.н., ст. науч. сотрудник, ПИЯФ РАН (Санкт-Петербург). Е-mail: yakubovich@pnpi.spb.ru
Аннотация:
Проанализированы электрические флуктуации в полупроводниках, вызванные захватом носителей заряда дефектами струк-туры; дано количественное описание флуктуаций; вычислено выражение общего вида для спектра электрических флуктуаций в полупроводниках, вызванных дефектами.
Страницы: 21-23
Список источников
  1. Якубович Б.И.Электрические флуктуации в неметаллах. СПб.: Энергоатомиздат. 1999.
  2. Kirton M.J., Uren M.J. Noise in solid-state microstructures: a new perspective on individual defects, interface states and low-frequency (1/f) noise // Adv. Phys. 1989. V.38. № 4. P. 367-468.
  3. Vandamme L.K.J. Noise as a diagnostic tool for quality and reliability of electronic devices // IEEE Trans. Electron Devices. 1994.
    V. 41. № 11. P. 2176-2187.
  4. Kleinpenning T.G.M. On 1/f noise and random telegraph noise in very small electronic devices // Physica B. 1990. V. 164. № 3.
    P. 331-334.