Жижин Г.Н., Кирьянов А.П., Никитин А.К., Хитров О.В.

Изложены основы инфракрасной (ИК) интерферометрии проводящей поверхности, когда взаимодействие зондирующего излучения с образцом опосредовано поверхностными плазмонами (ПП); описаны методики выполнения плазмонной интерферометрии, позволяющие определять комплексный показатель преломления ПП на данной частоте; предложен ряд схем плазмонных ИК-интерферометров и выполнено численное моделирование их работы; рассмотрена возможность осуществления статической фурье-спектроскопии проводящей поверхности при возбуждении на ней широкого спектра ИК ПП импульсным излучением.