350 руб
Журнал «Биомедицинская радиоэлектроника» №10 за 2010 г.
Статья в номере:
Оптимальное проектирование гетероструктуры для смесителей радиосигналов на основе резонансно-туннельных диодов
Ключевые слова: микроэлектроника нанотехнологии смеситель радиосигналов резонансно-туннельный диод
Авторы:
А.Г. Гудков - д.т.н., проф., генеральный директор ООО «Научно-производственная инновационная фирма «ГИПЕРИОН» (Москва) С.В. Агасиева - к.т.н., главный специалист ООО «Научно-производственная инновационная фирма «ГИПЕРИОН» С.А. Мешков - к.т.н., доцент, вед. науч. сотрудник ООО «Научно-производственная инновационная фирма «ГИПЕРИОН»
Аннотация:
Проведено изучение процессов, влияющих на возникновение отказов смесителей радиосигналов на основе резонансно-туннельных диодов (РТД) с составом слоёв гетероструктуры GaAs-AlGaAs. Оптимальное проектирование ведётся с учётом технологических факторов. Представлены результаты теоретических и экспериментальных исследований, а также разработана методика по определению показателей надёжности смесителей радиосигналов на основе РТД.
Страницы: 61-67
Список источников
  1. Иванов Ю.А.Исследование направлений применения резонансно-туннельного диода в интегральных схемах СВЧ диапазона // Микроэлектроника. 1996. Т.25. № 4. С. 249 - 258.
  2. Иванов Ю.А.Гармониковый смеситель СВЧ диапазона на РТД // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КрымиКо 1998): Материалы 8 Междунар. Крымской конф. Севастополь. 1998. С. 590-591.
  3. Арсенид галлия в микроэлектронике / пер. с англ. с сокращ. и доп. / под ред. Н Айнспрука, У.Уиссмена. М.: Мир. 1988. 555 с.
  4. Молекулярно-лучевая эпитаксия и гетероструктуры / пер. с англ. / под ред. Л.Ченга, К.Плога. М.: Мир. 1989. 584 с.
  5. Гуртов В.Твёрдотельная электроника: Учеб. пособие. 2-е изд. М.: Техносфера. 2005. 408 с.
  6. Нанотехнологии в электронике / под ред. Ю.А. Чаплыгина. М.: Техносфера. 2005. 448 с.
  7. Хныкина С.В.Разработка операционной технологии термоиспытаний с целью оценки надёжности смесителей радиосигналов на основе резонансно-туннельных диодов: Дисс.... канд.техн.наук. М.: МГТУ им.Н.Э.Баумана, 2008. 128 с.
  8. Александров Р.Ю., Малышев К.В., Хныкина С.В. и др.Исследование показателей качества СВЧ-микросхем с  помощью системы AdvancedDesignSystem (ADS) компании AgilentTechnologies / учеб. пособие/ под ред. И.Б. Фёдорова. М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2008. 79 с.