350 руб
Журнал «Успехи современной радиоэлектроники» №12 за 2019 г.
Статья в номере:
Измерительный комплекс для проведения исследований магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок
Тип статьи: научная статья
DOI: 10.18127/j20700784-201912-10
УДК: 53.082.78
Ключевые слова: Тонкая магнитная пленка измерительный комплекс.
Авторы:

С.А. Клешнина – аспирант; мл. науч. сотрудник,

Сибирский федеральный университет; Институт Физики им. Л. В. Киренского СО РАН (г. Красноярск) E-mail: sofya.antipckina@yandex.ru

А.Н. Бабицкий – вед. электроник,

Институт Физики им. Л. В. Киренского СО РАН (г. Красноярск)

Н.М. Боев – к.ф.-м.н., ст. преподаватель; науч. сотрудник,

Сибирский федеральный университет; Институт Физики им. Л. В. Киренского СО РАН (г. Красноярск) E-mail: nik88@inbox.ru

А.В. Изотов – к.ф.-м.н., доцент; ст. науч. сотрудник,

Сибирский федеральный университет; Институт Физики им. Л. В. Киренского СО РАН (г. Красноярск) E-mail: iztv@mail.ru;

А.В. Бурмитских – аспирант; мл. науч. сотрудник,

Сибирский федеральный университет; Институт Физики им. Л. В. Киренского СО РАН (г. Красноярск) E-mail: aburmitskikh@iph.krasn.ru;

А.А. Горчаковский – ассистент; инженер,

Сибирский федеральный университет; Институт Физики им. Л. В. Киренского СО РАН (г. Красноярск) E-mail:agor@iph.krasn.ru

Аннотация:

Постановка проблемы. Изучение свойств ферромагнитных пленок способствует решению фундаментальных проблем фи зики магнитных явлений, развитию теории ферромагнетизма. Для исследования и проектирования тонкопленочных устройств  необходимо использовать надежные методы их диагностики, современное программное и аппаратное обеспечение. Поэтому в  настоящее время актуальна задача разработки устройств и методов для измерений магнитных характеристик тонких ферро магнитных пленок.

Цель. Создать комплекс для локальных измерений магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок, обладающий  одновременно высокой чувствительностью и возможностью изменения степени локальности измерений в широких пределах. Результаты. Рассмотрен новый измерительный комплекс, предназначенный для исследования магнитных характеристик  тонких ферромагнитных пленок. Представлена схема измерительного комплекса магнитных характеристик тонких ферромаг нитных пленок, приведено развернутое описание конструкции, методики измерений и результаты эксперимента, подтвер ждающие, что измерительный комплекс реализует заявленные характеристики.

Практическая значимость. Предложен новый измерительный комплекс, предназначенный для локальных измерений маг нитных характеристик тонких ферромагнитных пленок, пригодный для неразрушающего контроля качества и однородности  тонких магнитных пленок, обладающий высокой чувствительностью и возможностью изменения степени локальности прово димых измерений в широких пределах.

Страницы: 66-70
Список источников
  1. Babitskii A.N., Belyaev B.A., Boev N.M., Izotov A.V. Low Noise Wideband Thin-Film Magnetometer // IEEE SENSORS. 2017
  2. Беляев Б.А., Изотов А.В., Ходенков С.А., Жарков С.М. Исследование магнитных материалов и тонкопленочных  структур методом ферромагнитного резонанса: Учеб.  пособие; Красноярск: Сиб. гос. аэрокосмич. ун-т. 2012.
  3. Суху Р. Магнитные тонкие пленки, М.: Мир. 1967. 
  4. Патент РФ №304529. Устройство для измерения магнитных свойств тонких ферромагнитных образцов / Семенов В.Г. Опубл.  25.05.1971. Бюл. № 17.
  5. Патент РФ №746362. Устройство для измерения напряженности поля анизотропии тонких магнитных пленок / Мельни ков В.П., Смаль И.В. Опубл. 07.07.1980. Бюл. № 25.
  6. Patent USA №3254298 Instrument for measurement of thin magnetic film parameters / David M. Ellis, Malvern, Clifford J. Bader. May. 1966.

 

Дата поступления: 25 ноября 2019 г.