А.С. Правитель - инженер-конструктор, АО «ИСС» имени академика М.Ф. Решетнева» (г. Железногорск) E-mail: pravitel@iss-reshetnev.ru

Рассмотрены методы повышения сбоеустойчивости, применяемые в системах повышенной степени надежности. Определены проблемы существующих методов обнаружения и коррекции ошибок. Исследованы аппаратно-алгоритмические методы повышения сбоеустойчивости для модулей памяти. Проведено сравнение корректирующих кодов по критериям аппаратных затрат вычислительной сложности и задержки на декодирование, числа избыточных символов. Разработаны сложно-функциональные блоки, позволяющие обнаруживать и исправлять различное число ошибок в информации, хранимой в модулях памяти. Намечены перспективные пути повышения надежности радиоэлектронной аппаратуры за счет использования кодов исправляющих множественные ошибки.

 

1. Чумаков А.И. Радиационная стойкость изделий ЭКБ. Научное издание. М.: НИЯУ МИФИ. 2015.
2. Wang F., Vishwani D.A. Single event upset: an embedded tutorial // 21st International Conference on VLSI Design. IEEE. 2008. P. 429-434.
3. Robert H. Morelos-Zaragoza The art of error correcting coding. Sec. Ed. John Wiley & Sons. 2006.
4. Anwar M.T., Lala P.K., Thenappan P. Decoder design for a new single error correcting/double error detecting code // International Journal of Electrical, Computer, Energetic, Electronic and Communication Engineering. 2007. V. 1. № 4. P. 649-653.
5. Naseer R., Draper J. Parallel double error correcting code design to mitigate multi-bit upsets in SRAMs // IEEE. 2008. P. 222-225.
6. Naseer R., Draper J. DEC ECC design to improve memory reliability in sub-100nm technologies // IEEE. 2008. P. 586-589.
7. Novac O., SZTRIK J., Vari-kakas S., Kim Che-Soong Reliability increasing method using a SEC-DED hsiao code to cache memories // Implemented with FPGA Circuits, Journal of Computer Science and Control Systems. October 2011. V. 4. № 2. P. 59-62.