350 руб
Журнал «Успехи современной радиоэлектроники» №1 за 2011 г.
Статья в номере:
Методика отладки и тестирования эмуляторов внешних устройств
Ключевые слова: тестирование эмулятор внешнее устройство методика интерфейс
Авторы:
М.В. Зибуль - ОАО «НИЦ ЭВТ». E-mail: zibul@nicevt.ru
Аннотация:
Предложена методика отладки и тестирования аппаратной составляющей эмуляторов внешних устройств. Представлена структурная схема имитатора канала мэйнфрейма.
Страницы: 77-80
Список источников
  1. Программно-аппаратная система эмуляции ЕС ЭВМ на базе ПЭВМ. URL: http://www.niievm.by/products/pace.html