350 rub
Journal Nanotechnology : the development , application - XXI Century №1 for 2010 г.
Article in number:
Emission Properties of Linear - Chain Carbon
Keywords: linear-chain carbon cold emission Schottky effect
Authors:
Khvostov V.V., Babaev V.G., Guseva M.B., Savchenko N.F., Streletskii O.A., Korobova Yu.G., Aleksandrov A.F.
Abstract:
Emission properties of linear-chain carbon cold cathode was studied. On the basis of carbon microfibers and powder prepared from them, a cold cathode with a current-voltage characteristic corresponding to the Schottky law was made. The work function LCC cathod equal to 0.43 eV at zero applied field and 0.27 eV at 2000 V/mm. The structure of fibrous and powder of LCC and its changes in the process of forming and annealing. It is shown that the determining factor in the reduction of work function LCC is the formation of nanoparticles with disoriented shot carbon chains
Pages: 80-87
References
  1. KanM.C., HuangJ.L., SungJ.C.etal. // J. Mater Res. 2003. V. 18. № 7. P. 1594.
  2. ZhuW., BowerC., KochanskiG.P.,JinS. // Diamond Relat Mater. 2001. V. 10. P. 1709.
  3. WangS.G., ZhangQ., YoonS.F.etal. // Diamond RelatMater. 2003. V. 12. P. 8.
  4. GroningO., KuttelO.M., GroningP.,SchlapbachL. // Appl. Surf. Sci. 1997. V. 111. P. 135.
  5. KanM.C., HuangJ.L., SungJ.C.,LiiD.F. // J. Vac. Sci.Technol. B. 2003. V. 21. №4. P. 1216.
  6. ZhuW., KochanskiG.P.,JinS. // Science. 1998. V. 282. - 20. P. 1471.
  7. MayP. W., StefanH., MichaelN.R. etal. // J. Appl.Phys. 1998. V. 84. № 3. P. 1618.
  8. WangS.G., ZhangQ., YoonS.F.etal. // Surface Coatings Technology. 2003. V. 167. P. 143.
  9. Ming-ChiKan, Jow-LayHuang, SungJ.C. etal. // Carbon. 2003. V. 41. P. 2839.
  10. ChenK.H., WuJ.J., ChenL.C.etal. // Diamond Relat
    Mater. 2000. V. 9. P. 1249.
  11. ObraztsovA .N., ZakhidovAl.A.,VolkovA.P. // Diamond Relat. Materials. 2003. V. 12. P. 446.
  12. LlieA., FerrariA.C., YangiT., RobertsonJ. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. - 18. P. 2627.
  13. YoshimotoG.T, IwataT., MinesawaR. etal. // Jpn. J. Appl. Phys. 2001. V. 40. P. 983.
  14. ОбразцовА.Н., ПавловскийИ.Ю.,ВолковА.П. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 11. С. 89.
  15. РахимовА. Т. // УФН. 2000. T. 70. № 9. C. 996.
  16. TarntairF.G., ChenL.C., WeiS.L.etal. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2000. V. 18. - 3. P. 1207.
  17. ShershinE.P. // Appl. Surf. Sci. 2003. V. 215. P. 191.
  18. МодиносA. IIАвто-термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия. М.: Наука.1990. 319 с.
  19. ШершинЕ.П. // Структура поверхности и автоэмиссионные свойства углеродных материалов. М.: Изд. МФТИ, 2001. 288 с.
  20. KudryavtsevYu.P., EvsyukovS.E.,GusevaM.B., BabaevV.G.// Carbon. 1992. V. 30. - 2. P. 213.
  21. PCT Patent, International Application Number PCT/IB96/01487 (Russia). Tetracarbon/Moscow State
    University. Guseva M.B., Babaev V.G., Novikov N.D. 1996. WO 97/25078.
  22. КупцовА.Х., ЖижинГЛ. Фурье-КР и Фурье-ИК спектры полимеров. М.: Физматлит. 2001. 656 с.
  23. БабаевВ.Г., ГусеваМ.Б.,СавченкоН. Ф. идр. //
    Поверхность. Рентген., синхр. и нейтрон, исслед 2004. №3. С.16.
  24. СавченкоН.Ф., ГусеваМ.Б. // Тез. докл. Всесоюзн. симп. «Электронная микроскопия и электронография в исследовании образования, структуры и свойств твердых тел». Звенигород. 1983. Ч. 1. С. 38.
  25. ErgunS., DonaldsonW. F.,SmithW. // Burean of mines
    Bulletin USA. 1965. № 620. P. 1.
  26. HeimannR. B., KleimanJ.,SalanskyN. M. // Carbon. 1984. V. 22. №2.с.164.
  27. LouL., NordlanderP. // Phys.i Rev. B. 1996. V. 54. № 23. P. 16659.
  28. PengLiu, YangWei,KailiJiang, QinSun, XiaoboZhang, andShoushanFan // Physical Review B. 2006. V. 73. P. 235412.
  29. ChenY., ShawD., GuoL. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. P. 2469.
  30. HsiehC.-T., ChenJ.-M.,KuoR.-R. Huang Y.-H. // Rev. Adv. Mater Sci. 2003. V. 5. P. 459.
  31. Srivastava S.K.,Vankar V.D., SridharRao D. V., and
    VikarmKumar // Thin Solid Films. 2006. V. 515.
    P. 1851-1856.
  32. Nilsonl L., Groening O., Emmenegger C., Kuettel O.,
    Schaller E., Schlapbach L., Kind H., Bonard J. and Kern K.     // Applied Physics Letters. 2000. V. 76. P. 2071-2073.
  33. Wen J.G., Huang Z.P., Wang D.Z., Chen J.H., Yang S.X., Ren Z.F., Wang J.H., Calvet L.E., Chen J., KlemicJ.F.andReedM.A. // J. Mater. Res. 2001. V.16. P. 3246-3253.