350 rub
Journal Electromagnetic Waves and Electronic Systems №1 for 2006 г.
Article in number:
Authors:
Любченко В. Е., Мериакри В. В., Чигряй Е. Е.
Abstract:
Описана новая методика неразрушающего измерения комплексного коэффициента преломления тонких полупроводниковых пленок на подложках из высокооомных полупроводников с помощью миллиметровых волн.