Алгоритм экспоненциально взвешенных скользящих средних для многомерного статистического контроля рассеяния процесса
- 1 аспирант, кафедра «Прикладная математика и информатика», Ульяновский государственный технический университет
- 2 д.т.н., профессор, кафедра «Прикладная математика и информатика», Ульяновский государственный технический университет
Ключевые слова:
многомерный статистический контролькарта обобщенной дисперсиичувствительность картыалгоритм экспоненциально взвешенных скользящих среднихоценка параметров
Аннотация
Предложен алгоритм, позволяющий повысить чувствительность карты обобщенной дисперсии, используемой при многомерном статистическом контроле рассеяния процесса, т.к. этой чувствительности часто недостаточно для обнаружения малого увеличения рассеяния процесса. Алгоритм основан на экспоненциально взвешенных скользящих средних для обобщенной дисперсии. Разработаны методы оценки параметров контроля.
Для цитирования
Святова Т.И., Клячкин В.Н. Алгоритм экспоненциально взвешенных скользящих средних для многомерного статистического контроля рассеяния процесса // Радиотехника. 2015. № 6. С. 42–44.
Список источников
- Montgomery D.C. Introduction to statistical quality control. New York: John Wiley and Sons. 2009. 754 p.
- Клячкин В.Н. Контроль технологического процесса с использованием карты Хотеллинга // Радиоэлектроника. Информатика. Управление. 2001. № 1. С. 92−94.
- Клячкин В.Н. Модели и методы статистического контроля многопараметрического технологического процесса. М.: ФИЗМАТЛИТ. 2011. 196 с.
- García-Díaz J. Carlos. The «effective variance» control chart for monitoring the dispersion process with missing data // Industrial Engineering. 2007. V. 1. № 1. P. 40−45.
- Клячкин В.Н., Кравцов Ю.А., Святова Т.И.Методы повышения эффективности многомерного статистического контроля // Наукоемкие технологии. 2013. № 5. С. 53−58.
- Святова Т.И., Клячкин В.Н. Многомерный статистический контроль технологического рассеяния процесса // Радиотехника. 2014. № 11. С. 123−126.
- Lucas J.M., Saccucci M.S. Exponentially weigheted moving average control schemes: properties and enhancements // Technometrics. 1990. V. 32. P. 1−12.
- Ермаков С.М., Михайлов Г.А. Статистическое моделирование. М.: Наука. 1982. 296 с.
- Клячкин В.Н., Святова Т.И. Статистический контроль технологического рассеяния в многопараметрическом процессе // Автоматизация и современные технологии. 2013. № 12. С. 22−25.