Название статьи или книги, фамилия автора, DOI

Фрактальная параметризация одномерных сингулярных физических объектов

О.В. Горшкова1, А.Е. Чалых2, В.К. Герасимов3, В.В. Матвеев4

научная статья Страницы: 772-777

  1. 1 аспирант, Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина
  2. 2 д.хим.н., проф., зав. лабораторией структурно-морфологических исследований, Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина
  3. 3 к.хим.н., вед. научн. сотр., Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина
  4. 4 научн. сотр., Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина

Аннотация

Предложена методика фрактального описания стохастических одномерных объектов в двумерном пространстве; выявлена общность фрактальных характеристик объектов различной физической природы; показано что анализ изображений, представленных в данной работе, позволил сформулировать простейшую численную модель.

Для цитирования

Горшкова О.В., Чалых А.Е., Герасимов В.К., Матвеев В.В. Фрактальная параметризация одномерных сингулярных физических объектов // Нелинейный мир. 2009. № 10. С. 772–777.

Список источников
  1. Пьетронеро Л., Тозатти Э. Фракталы в физике. М.: Мир. 1988. (Fractals in Physics Ed. by Pietronero L.,Tosatti E. Amsterdam-Oxford-New York-Tokyo: North Holland, 1986).
  2. Смирнов Б.М. Физика фрактальных кластеров. М.: Наука. 1991.
  3. Кулак М.И. Фрактальная механика материалов. Минск: Вышэйшая школа. 2002.
  4. Шмидт Ф.К. Фрактальный анализ в физико-химии гетерогенных систем и полимеров. Иркутск: Иркутский университет. 2001.
  5. Лукьянович В.М. Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях. М.: Изд-во РАН. 1960.
  6. Шиммель Г. Методика электронной микроскопии. М.: Мир. 1972.
  7. Салтыков С.А. Стереометрическая металлография. М.: Металлургия. 1976
  8. Mandelbrot B.B. Fractal: Form, chance and dimension San Francisco: Freeman. 1977.
  9. ФедерЕ.Фракталы. М.: Мир. 1991.