Модель лавинного пробоя, применимая в сильно неоднородных электрических полях
Abstract
Впервые показано, что при расчете лавинного пробоя в полевых транзисторах с субмикронной длиной затвора, в особенности в HEMT транзисторах, верные результаты можно получить лишь заменой обычно используемую зависимость коэффициентов ударной ионизации от амплитуды электрического поля аналогичными зависимостями от температур электронного и дырочного газов.
How to cite
Бувайлик Е.В., Мартынов Я.Б., Погорелова Э.В. Модель лавинного пробоя, применимая в сильно неоднородных электрических полях // Радиотехника. 2006. № 3.