Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову thin pzt films
Использование дифракции отраженных электронов для нанофазного анализа тонких пленок Pb(Zr,Ti)O<sub>3</sub>
Д.М. Долгинцев - инженер-исследователь, Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена (Санкт-Петербург). Е-mail: thphys@herzen.spb.ru А.Г. Канарейкин - аспирант, Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена (Санкт-Петербург). Е-mail: thphys@herzen.spb.ru В.П. Пронин - д.ф-м.н., профессор, Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена (Санкт-Петербург). Е-mail: thphys@herzen.spb.ru Е.Ю. Каптелов - к.ф-м.н., ст. науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). Е-mail: Kaptelov@mail.ioffe.ru С.В. Сенкевич - к.ф-м.н., науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). Е-mail: SenkevichSV@mail.ioffe.ru И.П. Пронин - к.ф-м.н., ст. науч. сотрудник, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). Е-mail: Petrovich@mail.ioffe.ru