Гуанбао Шань1, Яньвэнь Чжэн2, Хуэйхуа Цао3, В.И. Гончаренко4

1-3 Школа микроэлектроники, Университет Сидянь (Сиань, Китай)

4 Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет) (Москва, Россия)

1 gbshan@xidian.edu.cn; 4 vladimirgonch@mail.ru