Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову memristors
Количественное определение отказоустойчивости искусственных нейронных сетей на базе мемристоров

С.Н. Данилин – к.т.н., доцент,

Муромский институт (филиал), 

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования  «Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых»

E-mail: dsn-55@mail.ru

С.А. Щаников – к.т.н., доцент, декан, факультет информационный технологий, Муромский институт (филиал) 

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования 

«Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых»

E-mail: seach@inbox.ru, 

И.А. Борданов – инженер,

Муромский институт (филиал), 

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования 

«Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых»

E-mail: bordanov2011@yandex.ru, 

А.Д. Зуев – инженер,

Муромский институт (филиал), 

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования  «Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых» E-mail: ad-nemo@mail.ru

Мемристивные технологии для реализации нейросетевой элементной базы

В.П. Жалнин1, В. Айгужин2, М.Э. Апаков3, А.М. Панфилкин4

1–4 МГТУ им. Н.Э. Баумана (Москва, Россия)