Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову elements fault
Исследование шума сигнала фотоэлементов матричных фотоприемников в различных температурных режимах
И. И. Кремис - м. н. с., Новосибирский филиал Института физики полупроводников СО РАН им. А. В. Ржанова «Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники». E-mail: igor21738@ngs.ru