Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову thickness measurement
Излучатель миллиметрового диапазона и его использование в диэлектрометрии
Н. Л. Евич - гл. конструктор, Институт проблем машиностроения НАН Украины. E-mail: shuben@ipmach.kharkov.ua Ю. В. Прокопенко - д.ф.-м.н., ст. науч. сотрудник, Институт радиофизики и электроники им. А.Я. Усикова НАН Украины. E-mail: prokopen@ire.kharkov.ua