Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову test images database
Оценка «нано» и «пико» вероятностей появления редких событий биометрической аутентификации на малых тестовых выборках
В.А. Фунтиков - к.т.н., ген. директор, Пензенский научно-исследовательский электротехнический институт