Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову temperature stability
Регрессионный анализ в исследовании температурной стабильности электронных схем
Д.В. Озеркин - к.т.н., доцент, кафедра конструирования и производства радиоаппаратуры, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники E-mail: ozerkin.denis@yandex.ru С.А. Русановский - к.т.н., ген. директор, АО «НПЦ «Полюс» (г. Томск) E-mail: rusa10@yandex.ru