Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову technological error
Влияние погрешностей сборки секционной электродной системы на аналитические характеристики квадрупольного масс спектрометра
В.С. Гуров - д.т.н., профессор, кафедра «Промышленная электроника», ректор Рязанского государственного радиотехнического университета. E-mail: gurovvs@mail.ru М.В. Дубков - к.т.н., доцент, зав. кафедрой общей и экспериментальной физики, проректор, Рязанский государственный радиотехнический университет. E-mail: dubkov.m.v@mail.ru А.В. Николаев - ст. преподаватель, кафедра общей и экспериментальной физики, Рязанский государственный радиотехнический университет. E-mail: arniell@mail.ru
Анализ ошибок моделирования характеристик ФАР методом «конечного фрагмента», обусловленных измерительной и технологической погрешностями
В. М. Гаврилов - к.т.н., доцент, профессор кафедры радиотехники и радиосистем, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых Д. С. Смирнов - магистрант, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых; инженер, ФГУП «ГНПП «Крона» (г. Владимир) E-mail: smirnoff_ds@mail.ru
Проектирование тонкопленочных гибридных интегральных микросхем частного применения

Я.А. Дивакова

 РТУ МИРЭА (Москва, Россия)

Методические и алгоритмические средства автоматизированного вероятностного анализа параметров СВЧ-микросхем

С.А. Мешков – к.т.н., доцент, Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана E-mail: sb67241@mail.ru