Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову что при уменьшении толщины сегнетоэлектрических пленок в структурах металл/сегнетоэлектрик/металл уменьшаются остаточная поляризация и крутизна петель диэлектрического гистерезиса
Влияние толщины наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на характеристики гистерезиса МДМ-структур
Ю.В. Подгорный - к.т.н., вед. науч. сотрудник, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: podgsom_2004@mail.ru K.A. Воротилов - д.т.н., профессор, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: vorotilov@mirea.ru А.Н. Ланцев - ст. науч. сотрудник, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики, ген. директор ЗАО «СКАН». E-mail: lan@scanru.ru Д.С. Серегин - к.т.н. ст. научн. сотрудник, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: d_seregin@mirea.ru А.С. Сигов - академик РАН, ректор, Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики. E-mail: assigov@yandex.ru